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高低溫可靠性試驗機構

作者:tiemuzhen日期: 2023-02-16

高低溫試驗屬于氣候類環境可靠性試驗中比較常見的檢驗項目之一，高低溫試驗首要模仿干熱和干冷大氣環境，如夏天的天熱，冬季的天冷。高低溫試驗首要查核產品在作業狀態下或貯存狀態下產品的功用功用是否產生降低和改動，首要查核產品的高低溫耐受才干。

試驗內容：
低溫工作、低溫貯存、高溫工作、高溫貯存、低溫啟動、高溫啟動、高低溫循環、溫度沖擊、高溫壽命、高溫老化等。

高低溫試驗是用來承認產品在溫濕度氣候環境條件下貯存、運送、運用的適應性。
高低溫試驗的嚴苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露繼續時間。

高低溫可靠性試驗服務領域：
高低溫試驗箱用于工業產品高、低溫的可靠性試驗。對電子電工、轎車摩托、航飛系統、船只兵器、高等院校、科研單位等相關產品的零部件及資料在高、低溫循環改動的情況下，查驗其各項功用指標。

高低溫試驗方法：
預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩定。
初步檢測：將測試樣品與標準要求進行比較，滿足要求后直接放入高低溫試驗箱。

樣品斷電時，試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內，試驗箱（室）內溫度應降至-50℃，保持4小時；不要在樣品通電狀態下進行低溫測試，這一步非常重要，因為芯片本身在通電狀態下會產生20℃因此，在通電狀態下，通常更容易通過低溫試驗，須先凍透，再通電試驗。

在低溫階段結束后5min將試驗樣品轉換為已調整的樣品90℃保持在高溫試驗箱（室）內4h或者直到測試樣品達到溫度穩定，與低溫測試相反，加熱過程不斷電，芯片內部溫度保持高溫，4小時后執行A、B測試步驟。
進行老化測試，觀察是否存在數據對比錯誤。
高溫和低溫試驗分別重復10次。
重復上述實驗方法，以完成三個循環。根據樣品的大小和空間的大小，時間可能略有誤差。

恢復：試驗樣品從試驗箱中取出后，應在正常試驗大氣條件下恢復，直至試驗樣品達到溫度穩定。
實驗室制度按照CNAS授權檢測范圍基礎標準GB/T 2423.1-2008《電工電子產品環境試驗第 2 部分：試驗方法試驗 A：低溫》和 GB/T 2423.2-2008《電工電子產品環境試驗第 2 部分：試驗方法試驗 B：高溫》標準進行高低溫工作、高低溫貯存、干冷干熱、溫度變化、高溫老化、高溫壽命、高低溫耐受性試驗技術服務，出具帶有CNAS、CMA第三方檢測報告。

以上就是小編對“高低溫可靠性試驗機構”的相關解答，如需了解更多詳情，歡迎來電咨詢，謝謝！

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